簡(jiǎn)述高低溫試驗(yàn)箱制造的標(biāo)準(zhǔn)

        高低溫試驗(yàn)箱是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的：
        GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
        GB 10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
        GB 11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
        GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
        GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
        GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
        GB2424.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)方法
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